缺陷檢測設(shè)備的原理
      
                
      
                    
      ?1. 缺陷檢測設(shè)備檢測到的缺陷示例
      

      劃痕和裂紋
      

      崩裂和毛刺
      

      污垢和凹痕
      

      尺寸異常
      

      位置/角度異常
      

      異物附著/污染
      

      形狀異常
      

      變色
      

      印刷錯誤（OCR檢查）
      

      2. 缺陷檢測機制
      

      缺陷檢測設(shè)備檢測缺陷的機制包括圖像處理和激光掃描。
      

      ?
      

      該圖像處理方法通過處理CCD相機等相機拍攝的圖像數(shù)據(jù)來進行缺陷檢測。該系統(tǒng)涉及提前登記合格產(chǎn)品的信息，并將其與拍攝的數(shù)據(jù)進行比較，以確定產(chǎn)品是否合格。此外，近年來，使用人工智能檢測缺陷的系統(tǒng)也已被采用。
      

      ?
      

      激光掃描方法包括將光學(xué)激光照射到目標(biāo)物體上并分析反射光以檢查表面劃痕和缺陷。一般來說，這種方法比圖像處理方法能夠?qū)崿F(xiàn)更為準(zhǔn)確的檢查。有些產(chǎn)品還能夠檢測內(nèi)部缺陷。激光器有三種類型：平行光束型、聚焦激光型和可變焦型。平行光束型可實現(xiàn)穩(wěn)定照射，而聚焦激光型則具有檢查精度高的特點。變焦方法克服了激光聚焦方法聚焦光斑不穩(wěn)定的弱點。